薄膜反射儀

SR系列薄膜反射儀是一款相對較低成本和操作簡單的工具。

SR系列薄膜反射儀特征：                                                                    

• 簡單易操作                        

• *系統性能基于*進的光學設計            

• 基于陣列的探測器系統保證快速測量            

• 測量薄膜厚度和折射率可達5層            

• 允許在毫秒內獲得反射、透射和吸收光譜            

• 可用于實時或在線厚度，折射率的監測            

• 系統具有全面的光學常數數據庫           

• *進的TFprobe軟件允許用戶使用NK表、分散或有效介質近似（EMA）每個單獨的膜。            

• 可升級到MSP（顯微分光光度計）系統，SRM映射系統，多通道系統，大點的·直接測量圖案或功能結構 

• 適用于多種不同厚度的基材            

• 各種附件可用于特殊配置，如運行曲線測量曲面            

• 2D和3D輸出圖形和用戶友好的數據管理接口